Nový inklinometr PTAM27
ASM uvedla na trh nový kompaktní inklinometr s úzkým tělem PTAM27L, který je založený na MEMS technologii (použití micromechanických prvků) pro měření úhlu náklonu v jedné nebo ve dvou osách. Pro typy s měřením v jedné ose padá měřicí rozsah od 15° až do 180° s krokem 15°, pro typy s měřením ve dvou osách od 15° do 60° s krokem 15°.
Řada PTAM27L je rozšíření výrobní řady MEMS inklinometrů POSITILT® . Tato bezkontaktní technologie snímání přináší vysoké rozlišení a odolnost proti otřesům. Díky své malé výšce 10 mm je PTAM27L ideální pro aplikace s nedostatkem místa. Krytí odpovídá IP64.
Řada PTAM27L je rozšíření výrobní řady MEMS inklinometrů POSITILT® . Tato bezkontaktní technologie snímání přináší vysoké rozlišení a odolnost proti otřesům. Díky své malé výšce 10 mm je PTAM27L ideální pro aplikace s nedostatkem místa. Krytí odpovídá IP64.
Maximální měřicí rozsah je pro jednu osu ±180° s krokem 15° a ±60° pro dvě osy také s krokem 15°.
Druhy analogových výstupů a odpovídajících budicích napětí, které jsou k dispozici :
U2L = 0,5…10 V s 18…36 V DC,
U6L = 0,5…4,5 V s 5 V DC ±5 %,
U8L = 0,5…4,5 V s 10…36 V DC,
I1L = 4…20 mA s 18…36 V DC.
Inklinometr PTAM27L nabízí rozlišení 0,1°, linearitu ±1° a stabilitu teploty ±100 x 10-6/°C. Provozní teplota inklinometru je 0 až 60 °C.
Více o inklinometru
Více o inklinometru
NOVINKY
3.12.2025
Měřicí systém NMG2 pro měření doby doběhových časů
Prohlédněte si ceník měřicího systému NMG2 pro měření doby doběhových časů od ASM.
více
25.11.2025
Bezpečnostní relé SR E4R
Bezpečnostní relé SR E4R pro central STOP a bezpečnostní brány.
více
18.11.2025
Úzká relé a patice řady RJ a SJ
Prohlédněte si ceník úzkých relé a patic řady RJ a SJ od IDEC.
více
11.11.2025
ePaper displej (EPD) ke snímačům NOVOS 3
Ke všem snímačům NOVOS 3 je k dispozici volitelný ePaper displej.
více
